Détermination simultanée du paramètre de diffusion et du libre parcours moyen des électrons de conduction dans les couches minces
- 1 January 1964
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique
- Vol. 25 (1-2) , 194-197
- https://doi.org/10.1051/jphys:01964002501-2019401
Abstract
L'étude combinée des propriétés optiques et de la résistivité électrique d'une couche mince d'épaisseur connue, permet la détermination simultanée et univoque du libre parcours moyen l des électrons de conduction et de la fraction p d'entr'eux réfléchie « spéculairement » sur les deux plans limitant la couche mince - la méthode décrite, appliquée à des couches minces d'or, montre que le paramètre de diffusion p peut être différent de 0 pour des couches minces préparées par évaporation sous vide sur support amorphe, et recuites à températures convenablesKeywords
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- Effects of Transition Metal Solutes on the Electrical Resistivity of Copper and Gold Between 4° and 1200°KJournal of Applied Physics, 1961
- Electrical resistivity of thin films of potassium at 100°KJournal of Physics and Chemistry of Solids, 1958
- The conductivity of thin metallic films according to the electron theory of metalsMathematical Proceedings of the Cambridge Philosophical Society, 1938