An automatic flank control for double-crystal X-ray topography
- 1 November 1981
- journal article
- Published by IOP Publishing in Journal of Physics E: Scientific Instruments
- Vol. 14 (11) , 1248-1249
- https://doi.org/10.1088/0022-3735/14/11/006
Abstract
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- X-ray measurement of minute lattice strain in perfect silicon crystalsZeitschrift für Kristallographie - Crystalline Materials, 1981
- Zur röntgenographischen Bestimmung des Typs einzelner Versetzungen in EinkristallenThe European Physical Journal A, 1958
- Notizen: Röntgenographische Abbildung des Verzerrungsfeldes einzelner Versetzungen in Germanium-EinkristallenZeitschrift für Naturforschung A, 1958