Étude des niveaux de 28Si et 32S au moyen de la réaction (3He, d) à 8 MeV
- 1 January 1973
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique
- Vol. 34 (2-3) , 139-145
- https://doi.org/10.1051/jphys:01973003402-3013900
Abstract
L'étude des distributions angulaires des deutons émis dans les réactions 27Al(3He, d) 2 8Si et 31P(3He, d) 3 2S à 8 MeV a permis de vérifier que ces réactions ont lieu essentiellement par un mécanisme de stripping. L'analyse de ces distributions par la méthode des ondes distordues a permis de déterminer les facteurs spectroscopiques. Un accord très acceptable est obtenu entre les résultats expérimentaux et des calculs de modèle en couches avec interaction résiduelleKeywords
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