Spektrometrie von Elektronen-Interferenzen

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Abstract
Es wird ein elektronenoptisches Verfahren beschrieben, mit dem die chromatische Zusammensetzung von Elektronen-Interferenz-Diagrammen von polykristallinen Substanzen mit hoher spektraler Trennschärfe quantitativ festgestellt werden kann. Als dispersives Element dient der hochauflösende elektrostatische Geschwindigkeits-Analysator (elektrostatische Langlochlinse). Ein spaltförmiges, den Primärstrahl und Reflexe bis zu 5° enthaltendes Teilgebiet eines Debye-Scherrer-Diagramms bei 50 kV Strahlspannung wird durch die analysierende Linse geleitet und dadurch spektral zerlegt, so daß durch den Streuprozeß eingetretene Energie-Verluste von wenigen eVolt erkennbar werden. Im Teil I dieser Untersuchung wird der elektronenoptische Strahlengang und der Versuchsaufbau dargestellt. Als Ergebnis wird die spektrale Zerlegung eines Debye-Scherrer-Diagramms von Gold demonstriert. Die Auswertung der Versuchsergebnisse, insbesondere die Bestimmung des Verhältnisses der chromatisch oder elastisch gestreuten Elektronen zur Gesamtzahl der Primär-Elektronen in Abhängigkeit von Ordnungszahl und Dicke der Streusubstanz und der Vergleich mit der Theorie sind dem Teil II vorbehalten.

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