Anwendung elektronenmikroskopischer Feinbereichsbeugung zur Ermittlung der Walztextur von Kupfer
- 1 January 1964
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Physica Status Solidi (b)
- Vol. 7 (2) , 701-710
- https://doi.org/10.1002/pssb.19640070227
Abstract
Mittels elektronenmikroskopischer Feinbereichsbeugung wird an 95% gewalztem Kupfer an 600 Stellen, die über große Materialbereiche verteilt liegen, die Orientierung in bezug auf Walzrichtung und Blechebene festgestellt. Die daraus gewonnenen Polverteilungen stimmen mit den am gleichen Material röntgenographisch gemessenen (111)‐, (200)‐ und (220)‐Polfiguren überein. Die zusätzlichen Informationen, die das elektronenmikroskopische Verfahren im Vergleich zur röntgenographischen Methode zu liefern in der Lage ist, werden diskutiert.Keywords
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