Einige Erfahrungen mit der rechnerischen Analyse und Synthese von elektronenmikroskopischen Bildern hoher Auflösung
- 1 November 1970
- journal article
- Published by Wiley in Berichte der Bunsengesellschaft für physikalische Chemie
- Vol. 74 (11) , 1105-1115
- https://doi.org/10.1002/bbpc.19700741105
Abstract
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- Notizen: Optimalbedingungen für den Beugungsnachweis von Defokussierungsstrukturen in elektronenmikroskopischen AufnahmenZeitschrift für Naturforschung A, 1969
- Bilddifferenzverfahren in der ElektronenmikroskopieThe Science of Nature, 1969
- Image Evaluation and Restoration*†Journal of the Optical Society of America, 1966
- Notizen: Elektronenmikroskopische Untersuchungen an dünnen KohlefolienZeitschrift für Naturforschung A, 1965
- An algorithm for the machine calculation of complex Fourier seriesMathematics of Computation, 1965
- Transmission Factors and Optical DesignJournal of the Optical Society of America, 1956
- The Fourier Inversion of Diffraction DataReviews of Modern Physics, 1953
- Fourier Treatment of Optical ProcessesJournal of the Optical Society of America, 1952
- The calculation of structure factors by Fourier summationActa Crystallographica, 1951
- The Theoretical Resolution Limit of the Electron MicroscopeJournal of Applied Physics, 1949