Contribution to the contamination problem in transmission electron microscopy
- 4 January 1978
- journal article
- Published by Elsevier in Ultramicroscopy
- Vol. 3 (2) , 169-174
- https://doi.org/10.1016/s0304-3991(78)80023-0
Abstract
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- Contamination formed around a very narrow electron beamUltramicroscopy, 1976
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- Wiedergabetreue elektronenmikroskopischer Oberflächenabdrücke von bekannten ModellobjektenThe Science of Nature, 1968