Gitterkonstantenänderungen und chemische Inhomogenitäten von tetragonalem ZnSiP2
- 1 January 1977
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Crystal Research and Technology
- Vol. 12 (2) , 175-178
- https://doi.org/10.1002/crat.19770120212
Abstract
Lokale Gitterkonstantenänderungen in ZnSiP2‐Kristallen, die mit Hilfe der Bond‐Methode nachgewiesen wurden, belegen örtliche chemische Inhomogenitäten, die mit Si‐Konzentrationsänderungen bis zu etwa 0,8 At.‐% erklärt werden können.Keywords
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- Precision lattice constant determinationActa Crystallographica, 1960