Trajet des rayons X dans un cristal parfait au voisinage de la réflexion totale

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Abstract
On rappelle les conditions aux limites à l'entrée d'une onde électromagnétique dans un cristal pour le montage par réflexion. Un pinceau de rayons X peut dans ce cas pénétrer dans le cristal au voisinage de la réflexion totale. On se place dans le cas particulier où ce faisceau sort par une face latérale du cristal. On calcule théoriquement l'intensité des faisceaux émergents. A l'aide d'un montage utilisant la multiple réfraction des rayons X, on met en évidence expérimentalement l'existence des faisceaux émergents pour un angle d'incidence donné. Les mesures quantitatives d'intensité sont en bon accord avec les valeurs théoriques. Le montage utilisé permet de serrer de très près la courbe de réflexion intrinsèque sur un cristal

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