Diffractomètre de rayons X à haute température (2500°C) sous vide pousse (10⁻⁸Torr)

• 1 December 1970
• journal article
• research article
• Published by International Union of Crystallography (IUCr) in Journal of Applied Crystallography
• Vol. 3  (6) , 493-496
• https://doi.org/10.1107/s002188987000674x

Abstract