Spectrométrie IR pour la mesure de faibles variations d'émissivité

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Abstract
Nous décrivons un spectromètre infrarouge double faisceau (0,5 μm- 10 μm) adapté à l'étude de faibles variations d'émissivité monochromatique directionnelle d'une surface. Grâce à un système original de commutation des voies, on mesure sous vide (pression 10-7 torr), la différence d'énergie émise par les deux faces d'un ruban échantillon. C'est ainsi que nous avons mesuré la différence d'émissivité des deux faces d'un ruban de carbone lorsqu'un dépôt de platine est effectué sur l'une de celles-ci. Nous montrons qu'il est possible de mettre en évidence des variations d'émissivité de 0,3 % avec une précision de 10 %. De telles variations sont engendrées par des dépôts de 3,6 x 1015 atomes/cm 2 de platine déposés sur carbone