STRUCTURAL AND ELECTRONIC PROPERTIES OF CVD SILICON FILMS NEAR THE CRYSTALLIZATION TEMPERATURE
- 1 October 1982
- journal article
- Published by EDP Sciences in Le Journal de Physique Colloques
- Vol. 43 (C1) , C1-271
- https://doi.org/10.1051/jphyscol:1982137
Abstract
Supplément au Journal de Physique Colloques, Journal de Physique Archives représente une mine dinformations facile à consulter sur la manière dont la physique a été publiée depuis 1872.Keywords
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