Etude par microanalyse aux rayons X des migrations d'argent dans Ag 2 Te
Open Access
- 1 January 1979
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 14 (4) , 551-553
- https://doi.org/10.1051/rphysap:01979001404055100
Abstract
Dans le cas où les structures M-Ag2Te-M sont soumises à des champs suffisamment importants pour atteindre une mémorisation définitive des états de haute ou de faible conductivité, on étudie le tracé du profil de concentration en Argent par microanalyse aux rayons X sur un microscope à balayage. Les résultats confirment l'hypothèse d'une migration ionique introduite pour rendre compte de l'allure des caractéristiques I-V des couches minces d'Ag2Te, qui varie avec la nature et la forme des électrodesKeywords
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- Reactive diffusion and electronic structure at the nickel/selenium interfaceJournal of Applied Physics, 1978
- Commutations dans des couches très minces de Te43Se50Sn7Thin Solid Films, 1977
- Reversible Electrical Switching Phenomena in Disordered StructuresPhysical Review Letters, 1968