Neue Möglichkeiten der Oberflächenuntersuchung für die Lackforschung mittels der Raster‐Elektronenmikroskopie
- 1 January 1968
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Fette, Seifen, Anstrichmittel
- Vol. 70 (6) , 413-417
- https://doi.org/10.1002/lipi.19680700611
Abstract
Die Raster‐Elektronenmikroskopie ermöglicht die unmittelbare Oberflächenuntersuchung von Lackschichten bzw. von dem Untergrundmaterial. Sie liefert bei einfachster Präparatvorbereitung plastisch wirkende Bilder von 20‐ bis 50000facher Vergrößerung mit außergewöhnlicher Tiefenschärfe bei einem Auflösungsvermögen von 30 nm. Sie schließt gewisse Lücken der Untersuchungstechnik bei der Lichtmikroskopie bezüglich der Tiefenschärfe und bei der konventionellen Durchstrahlungs‐Elektronenmikroskopie bezüglich der Präparation. Auf die mögliche Gewinnung einiger Daten für Pigmente in Lackschichten mittels Raster‐elektronenmikroskopischer Untersuchungen wird hingewiesen.Keywords
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