Bestimmung der optischen Konstanten von Halbleitern an Proben mit nichtidealen Oberflächen

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Abstract
Am Beispiel GaAs wird gezeigt, daß es möglich ist, die bei Durchlässigkeits-und Reflexions-messungen an planparallelen Proben durch Oberflächenstreuung auftretenden Intensitätsverluste näherungsweise aus den Meßwerten selbst zu bestimmen und bei der Berechnung der optischen Konstanten zu berücksichtigen.

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