Elektronenbeugungsuntersuchungen im konvergenten Bündel mit dem Siemens Elmiskop I
Open Access
- 1 January 1965
- journal article
- Published by Walter de Gruyter GmbH in Zeitschrift für Naturforschung A
- Vol. 20 (1) , 110-114
- https://doi.org/10.1515/zna-1965-0121
Abstract
Es wird eine Methode beschrieben, die es gestattet, von ca. 300 A großen ausgewählten Präparatbereichen Elektronenbeugungsdiagramme im konvergenten Bündel zu erhalten, wobei sich die Richtung der Achse des einfallenden Elektronenbündels innerhalb eines Kegels von 6° Öffnungswinkel verändern läßt. Das Präparat kann schattenmikroskopisch mit einer Auflösung von 200 bis 300 A abgebildet werden. Die Brauchbarkeit dieser Methode wird an Hand von Kikuchi-Diagrammen und Beugungsbildern von MgO-Rauchpartikeln und MoS2-Kristallen demonstriert. Über erste Untersuchungen im konvergenten Bündel zur Bestimmung der anomalen Absorption wird berichtet.Keywords
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