Scheinwiderstand und Sperrkennlinien von Silizium-p-n-Übergängen mit Oberflächeninversionsschicht
- 31 August 1962
- journal article
- Published by Elsevier in Solid-State Electronics
- Vol. 5 (4) , 249-259
- https://doi.org/10.1016/0038-1101(62)90105-3
Abstract
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