Dispositif automatique de mesures de résistivité entre 4 et 1 100 K
- 1 January 1985
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 20 (11) , 795-799
- https://doi.org/10.1051/rphysap:019850020011079500
Abstract
La mesure de la conductivité d'un échantillon par application de la loi l'Ohm impose l'injection d'un courant et la mesure de la tension correspondante. Une méthode générale de mesures automatisée de la résistivité est proposée, dans laquelle le courant injecté dans l'échantillon est optimisé en tenant compte de la non-linéarité éventuelle de la caractéristique I( V) du matériau testé et de l'existence de potentiels de contact. Le domaine d'application de ce système automatisé ainsi que la validité de l'algorithme présenté sont testés de 4,2 à 1 100 K pour des échantillons dont la résistivité varie de 10-4 à 105 Q.mKeywords
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- Resistivity Measurements on Germanium for TransistorsProceedings of the IRE, 1954