Elektronenmikroskopie kleiner Fehlstellenagglomerate in bestrahlten Metallen II. Untersuchungen an neutronen‐ und ionenbestrahltem Kupfer sowie neutronenbestrahltem Nickel

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Abstract
Die nach Neutronen‐ und Ionenbestrahlung in Kupfer sowie die nach Neutronenbestrahlung in Nickel im Elektronenmikroskop beobachtbaren Defekte werden untersucht. Durch quantitativen Vergleich der aus der Theorie des Kontrastes folgenden Kontrastbreite mit den beobachteten Defektgrößen läßt sich die wahre Größe und Größenverteilung der Agglomerate ermitteln. Die Analyse des Defekttyps ergab (siehe [1]), daß sowohl nach Neutronen‐ als auch nach Ionenbestrahlung (im Mikroskop mit 100 kV‐ bzw. 40 kV‐Ionen) nahezu alle beobachtbaren Defekte in Kupfer durch Kondensation von Leerstellen entstanden waren. Dasselbe ergab sich auch für die beobachtbaren Defekte in neutronenbestrahltem Nickel. Die bei der Bestrahlung auch gebildeten Zwischengitteratome müssen deshalb entweder an Senken (Korngrenzen, Versetzungen, Einzelleerstellen) ausgeheilt oder zu noch nicht im Elektronenmikroskop auflösbaren Defekten agglomeriert sein. Durch einen quantitativen Vergleich der beobachteten Defektdichte mit dem Verlauf der Energieverteilungskurve der primären Rückstoßatome folgt, daß alle primären Rückstoßatome, deren Energie größer als (30 ± 10) keV ist, einen im Elektronenmikroskop sichtbaren Defekt erzeugen.
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