ÉTUDE PAR ELLIPSOMÉTRIE DE FILMS PHYSISORBÉS SUR GRAPHITE
Open Access
- 1 November 1977
- journal article
- Published by EDP Sciences in Le Journal de Physique Colloques
- Vol. 38 (C5) , C5-109
- https://doi.org/10.1051/jphyscol:1977512
Abstract
L'adsorption du Xénon sur la face de base (0001) du graphite, dans le domaine de la monocouche atomique et plus (cinq) est étudiée par Ellipsométrie et les résultats sont comparés à ceux obtenus par Volumétrie, D. E. L. et diffusion Auger. Nous avons testé plusieurs approches théoriques combinant l'effet ellipsométrique et le degré de recouvrement. En employant deux grandeurs expérimentales connues, la polarisabilité de l'atome libre de Xénon, la distance proche voisine Xe-Xe, nous avons calculé les constantes diélectriques de la couche adsorbée. Un bon accord est obtenu entre les valeurs observées et calculées avec la théorie macroscopique ellipsométrique et la théorie de Sivukhin (2e ordre)Keywords
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