Attachement électronique dissociatif sur HCI et DCI
- 1 January 1974
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 9 (2) , 469-473
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0197400902046900
Abstract
La formation des ions négatifs dans HCI et DCl est étudiée à l'aide d'un tube à ionisation totale. En plus du pic d'ions CI- observé par de nombreux auteurs, la courbe représentant le courant d'ions négatifs en fonction de l'énergie des électrons comporte deux autres pics à 6,9 et 9,2 eV. Ces pics sont attribués aux ions H- (D-). Nous avons déterminé la valeur des sections efficaces des différents processus d'attachement et mesuré les effets isotopiques correspondants. Nous obtenons :$$Keywords
This publication has 14 references indexed in Scilit:
- Formation of HS− and DS− by Dissociative Attachment in H2S, HDS, and D2SThe Journal of Chemical Physics, 1972
- Dissociative Attachment in CO and Formation of C−The Journal of Chemical Physics, 1970
- Dissociative Electron Attachment to Hydrogen Halides and their Deuterated AnalogsThe Journal of Chemical Physics, 1968
- Electron Capture Processes in the Hydrogen HalidesThe Journal of Chemical Physics, 1958
- Negative Ion Formation in Hydrogen Chloride by Electron ImpactThe Journal of Chemical Physics, 1957
- A survey of negative ions in mass spectra of polyatomic moleculesJournal of Research of the National Bureau of Standards, 1956
- Ionization in a Mass Spectrometer by Monoenergetic ElectronsReview of Scientific Instruments, 1955
- A Mass-Spectrographic Analysis of the Ions Produced in HCl Under Electron ImpactPhysical Review B, 1936
- The Ionization of HCl by Electron ImpactsPhysical Review B, 1927
- Probability of Ionization of Gas Molecules by Electron ImpactsPhysical Review B, 1925