Röntgenographische Untersuchungen an aufgedampften Nickelfilmen

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Abstract
Nickelfilme im Schichtdickenbereich von 100 bis 4000 Å werden unter Ultrahochvakuumbedingungen bei 77°K auf Tempaxglasträger aufgedampft, bei 210°C getempert und anschließend an der Atmosphäre bei 20°C röntgenographisch untersucht. Eine Auswertung bezüglich der Reflexbreiten sowie der Winkellage der Reflexmaxima zeigt, daß die Filme keine merklichen Stapelfehler enthalten. Die {111}-orientierten Kristallite sind stets größer als die {200}- und die {311}-orientierten. Die mittlere Größe der {111}-orientierten Kristallite entspricht dabei etwa der Schichtdicke. Die für die Filme gemessenen Gitterkonstanten sind gegenüber denen des kompakten Materials erniedrigt. Dieser Effekt beruht auf einer Kontraktion des Gitters in der Richtung senkrecht zur Filmebene unter dem Einfluß der unterschiedlichen thermischen Ausdehnungskoeffizienten von Film und Unterlage. Das Ausmaß der Gitterkontraktion hängt von der Schichtdicke ab.

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