Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique
- 1 May 1993
- journal article
- research article
- Published by Walter de Gruyter GmbH in TM - Technisches Messen
- Vol. 60 (5) , 176-184
- https://doi.org/10.1524/teme.1993.60.5.176
Abstract
Article Schnelle Mikroprofil- und Rauheitsinspektion auf der Basis mikroskopischer Streifenprojektionsverfahren/ Fast micro-profile and roughness inspection on the basis of the microscopic fringe projection technique was published on May 1, 1993 in the journal tm - Technisches Messen (volume 60, issue 5).Keywords
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