Mesure assistée par miniordinateur du pouvoir thermoélectrique de petits échantillons
Open Access
- 1 January 1982
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 17 (10) , 701-706
- https://doi.org/10.1051/rphysap:019820017010070100
Abstract
Le dispositif décrit permet une mesure du pouvoir thermoélectrique d'échantillons de faible dimension (quelques mm) entre 4 et 800 K. La mesure est assistée par une chaîne d'acquisition de données sous le contrôle d'un calculateur. Il est possible de mesurer le P.T.E. d'échantillons métalliques (S < 10 μV/K) comme le P.T.E. d'échantillons semi-conducteurs à fort coefficient de Seebeck (S > 500 μV/K) avec une précision de 2 %. L'appareil a été testé sur un échantillon de fer électrolytique standardKeywords
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