Attachement électronique dissociatif sur C2H2 et C2D2
- 1 January 1972
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique
- Vol. 33 (7) , 663-667
- https://doi.org/10.1051/jphys:01972003307066300
Abstract
Quatre pics d'ions négatifs sont observés en fonction de l'énergie des électrons incidents, dans l'étude de l'attachement dissociatif par impact électronique sur C2H 2 et C2D2, avec un appareil à ionisation totale. Le premier pic est attribué aux ions C2 H-(C2D-), le deuxième aux ions H- (D-), C-2 et C2H- (C2D -) enfin les deux derniers pics sont dus aux ions C- 2. Nous avons déterminé la valeur absolue des sections efficaces et la forme des courbes d'ionisation ; le seuil de formation des ions C2H- est 2,3 ± 0,1 eV ; la section efficace augmente brusquement après le seuil et atteint au maximum la valeur (2,2 ± 0,3) × 10-20 cm2. Un important effet isotopique est observé pour le pic C2H- (C2D-) et un léger effet pour les pics C-2. Des évaluations d'énergie cinétique nous ont permis de prévoir l'état des fragments produits dans l'attachement dissociatifKeywords
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