Méthode d'intégration électronique pour la mesure d'aimantation de supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique

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Abstract
On décrit la réalisation d'un montage de mesure d'aimantation par intégration avec amplification préalable, qui permet d'obtenir, pour des supraconducteurs de faible volume et de faible champ critique, le tracé direct de la courbe d'aimantation, et en particulier les sauts d'aimantation, sur un enregistreur XY rapide

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