Caractérisation optique et électrique de couches minces cristallines de tellurure de plomb

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Abstract
Les propriétés électriques et optiques de couches minces de PbTe déposées sous vide sont étudiées et comparées à celles du cristal massif. Certaines méthodes électriques et optiques, prises isolément, ont pu donner des résultats inexacts. En comparant nos mesures galvanomagnétiques à la dispersion infrarouge et en reliant entre elles par les relations de Kramers-Krönig les couples de constantes optiques observées, nous montrons qu'il est possible de caractériser de façon plus sûre les couches minces de PbTe, ou d'autres semiconducteurs