Mise en œuvre de deux méthodes interférométriques pour la caractérisation mécanique des films minces par l'essai de gonflement. Applications au cas du silicium monocristallin

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Abstract
Deux méthodes optiques sont présentées, interférométrie holographique en temps réel et méthode par projection de franges, appliquées à la caractérisation mécanique des films minces. Ces deux méthodes sont couplées à l'interférométrie par mesure de phase, ce qui permet d'accéder au champ des déplacements en tous points de la membrane. Les solutions retenues sont discutées en termes de précision et de sensibilité. Nous proposons l'application de ces méthodes à l'essai de gonflement de membrane, essai largement répandu dans les études de micro-mécaniques. Les mesures sont effectuées sur du silicium monocristallin et les résultats sont comparés aux solutions calculées par éléments finis. Le bon accord entre théorie et expériences valide les méthodes et les dispositifs développés
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