Contribution à la détermination de la structure électronique d'alliages métalliques amorphes Cu50Zr50 par spectroscopie optique

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Abstract
Les échantillons de Cu50Zr50 amorphes sont préparés par pulvérisation cathodique triode d'une cible d'alliage de composition déterminée. L'épaisseur des dépôts étudiés varie de quelques centaines d'angströms à plusieurs microns. L'homogénéité en épaisseur est très bonne, même pour les échantillons très minces. La constante diélectrique est déterminée soit à partir des mesures de réflexion et de transmission en incidence normale pour les échantillons semi-transparents, soit à partir des mesures de réflexion en utilisant la transformation de Kramers-Kronig pour les échantillons opaques. Le domaine spectral étudié va de 50 μ à 0,2 μ. Les spectres optiques montrent en particulier un pic d'absorption vers 3,5 eV, qui doit être dû à des transitions entre la sous-bande d du cuivre (déplacée vers les grandes énergies de liaison par rapport à sa position dans le métal pur) et le niveau de Fermi. Ces résultats sont en bon accord avec les mesures de photoémission de Oelhafen et al