MEASUREMENT OF CONTACT POTENTIAL DIFFERENCES BY ELECTRON INTERFEROMETRY
- 15 November 1964
- journal article
- research article
- Published by AIP Publishing in Applied Physics Letters
- Vol. 5 (10) , 209-210
- https://doi.org/10.1063/1.1723591
Abstract
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This publication has 4 references indexed in Scilit:
- Interferenzmikroskopie mit ElektronenwellenThe European Physical Journal A, 1959
- Ein Elektronen‐Interferenz‐MikroskopPhysikalische Blätter, 1957
- Beobachtungen und Messungen an Biprisma-Interferenzen mit ElektronenwellenThe European Physical Journal A, 1956
- Notizen: Lichtstarke Interferenzen mit einem Biprisma für ElektronenwellenZeitschrift für Naturforschung A, 1955