Measurement of Minority Carrier Lifetime in Silicon of Low Dislocation Density
- 1 January 1969
- journal article
- research article
- Published by Wiley in Physica Status Solidi (b)
- Vol. 32 (1) , K17-K19
- https://doi.org/10.1002/pssb.19690320156
Abstract
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- Zur Abhängigkeit der Lebensdauer von der Versetzungsdichte bei tiegelfreien Silizium‐EinkristallenPhysica Status Solidi (b), 1965
- Über die Lebensdauer an zonengezogenen und metalldotierten Silicium-EinkristallenZeitschrift für Naturforschung A, 1962
- Effect of Dislocations on the Minority Carrier Lifetime in SemiconductorsPhysical Review B, 1956