Sur le rôle respectif de la rugosité des interfaces et de l'inhomogénéité structurale dans la diffusion optique par une couche mince
Open Access
- 1 January 1977
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 12 (10) , 1641-1648
- https://doi.org/10.1051/rphysap:0197700120100164100
Abstract
A l'aide d'une technique mathématique qui permet de calculer la répartition angulaire de l'intensité lumineuse diffusée par une couche mince, on montre qu'il est possible, grâce aux effets de polarisation de la lumière, de reconnaître l'origine de la diffusion en faisant quelques hypothèses simplificatrices sur la nature des défauts internes et externes à la couche. Les indicatrices de diffusion calculées pour une couche d'oxyde de titane, en tenant compte uniquement des défauts externes, sont en accord satisfaisant avec les résultats expérimentaux. Ceci met en évidence le rôle prépondérant de la rugosité des interfaces dans le processus de diffusion observéKeywords
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- Morphology and light scattering of dielectric multilayer systemsThin Solid Films, 1976
- Light scattering investigation of the nature of polished glass surfacesNouvelle Revue d'Optique, 1976
- Étude des couches minces et des surfaces par réflexion rasante, spéculaire ou diffuse, de rayons XRevue de Physique Appliquée, 1976
- Electron microscopy of multilayer thin filmsThin Solid Films, 1970
- Streuung elektromagnetischer Wellen an einer rauhen OberflächeThe European Physical Journal A, 1970