Diffuse reflectance spectra of smectite minerals in the near infrared and their relationship to chemical composition / Spectres de réflectance diffuse de smectites dans le proche infrarouge, en relation avec la composition chimique

Publisher Website
Google Scholar
Abstract
Spectres de reflectance diffuse de smectites dans le proche infrarouge en relation avec la composition chimique. — Les spectres-de réflectance haute résolution de 12 smectites sélectionnées ont été réalisés dans le domaine du proche infrarouge (1,0 à 2,5 μm). Les teneurs en Al, Mg, Fe et Si de ces minéraux ont été déterminées par fluorescence X. Deux méthodes ont été étudiées pour trouver la meilleure corrélation entre les données chimiques et spectroscopiques : (I) sélection des bandes en fonction de structures d'adsorption cation-OH connues, et calcul de la corrélation entre les valeurs d'absorption corrigées et la concentration du constituant. Quelques tendances ont été décelées mais les corrélations étaient généralement faibles (r2= 0,36-0,85) entre données chimiques et données spectroscopiques ; (II) sélection de longueur d'onde dans toutes les régions du spectre où existe une forte corrélation linéaire entre une concentration d'un élément donné et l'intensité d'absorption. En utilisant les longueurs d'onde pour lesquelles on détecte le plus fort coefficient de corrélation, les équations de calibration étaient ajustées pour chaque élément par une méthode de régression linéaire multivariable. La plupart des longueurs d'onde sélectionnées par l'approche II ont été expliquées spectroscopiquement comme étant des harmoniques et des combinaisons de modes fondamentaux de diverses liaisons OH-cation. Des valeurs élevées du coefficient R2 (0.97-0.99) ont été obtenues et correspondaient à de faibles erreurs standard de calibration. La validation a été faite en utilisant une procédure adaptée aux séries relativement petites d'échantillons étudiés. Une précision acceptable a été obtenue pour les quatre éléments constituants à condition qu'un point aberrant soit exclu dans chaque lot. L'analyse dans le proche infrarouge fondée sur l'approche II pourrait avoir des applications prometteuses comme méthode rapide et non destructive d'analyse des concentrations des constituants des argiles.

This publication has 0 references indexed in Scilit: