Röntgenspektroskopische Untersuchung der Struktur des Valenzbandes von Silicium, Siliciumcarbid und Siliciumdioxid
- 1 October 1967
- journal article
- Published by Springer Nature in The European Physical Journal A
- Vol. 207 (5) , 428-445
- https://doi.org/10.1007/bf01326361