Surface oxidation studies of iron using the static method of secondary ion mass spectrometry (SIMS)

This publication has 14 references indexed in Scilit:

• Surface investigation of solids by the statical method of secondary ion mass spectroscopy (SIMS)
  Surface Science, 1973
• Investigation of the surface oxidation of metals in the sub-monolayer and monolayer range with the static method of secondary ion mass spectrometry
  Thin Solid Films, 1972
• Beobachtung von oberflächenreaktionen mit der statischen methode der sekundärionen-massenspektroskopie. I die methode
  Surface Science, 1971
• Die Analyse monomolekularer FestkörperoberflÄchenschichten mit Hilfe der SekundÄrionenemission
  The European Physical Journal A, 1970
• Die Emission negaliver Sekundarionen von Verbindungen mit komplexen Anionen
  Zeitschrift für Naturforschung A, 1969
• Zum Mechanismus der Ionenbildung und Ionenemission bei der FestkörperzerstÄubung
  The European Physical Journal A, 1969
• Analysis of Submonolayers on Silver by Negative Secondary Ion Emission
  Physica Status Solidi (b), 1969
• Étude théorique de l'émission ionique secondaire
  Journal de Physique, 1969
• Temps de désexcitation Auger d'un trou créé par bombardement ionique sur un niveau électronique lié d'un atome du métal irradié
  Journal de Physique, 1968
• SECONDARY ION EMISSION
  Soviet Physics Uspekhi, 1967