Abstract
On décrit un spectrophotomètre permettant la mesure des facteurs de réflexion R(et tranmission T) d'échantillons plans opaques (et semi-transparents) à des angles d'incidence variables de 10 à 80°, en lumière polarisée rectilignement, pour des longueurs d'onde comprises entre 0,25 et 1 w. Des mesures effectuées sur des couches minces semi-transparentes d'Au et de TiO 2 sont présentées. Quelques critères de précision sont étudiés, notamment la vérification de la relation R + T = 1 pour des couches non absorbantes. On conclut que la précision de l'appareil est meilleure que 0,5 pour cent sur les mesures de R et T.