Abstract
Für schlagzähe Polystyrene und ABS‐Polymere werden die in der Literatur vorhandenen Modelle zur Erklärung der verbesserten Zähigkeit kritisch betrachtet. Auf der Grundlage der Ergebnisse einer direkten Untersuchung der Mikroprozesse von Deformation und Bruch an dünnen Dehnproben in einem Höchstspannungs‐Elektronenmikroskop wird die Vielfach‐Craze‐Bildung (nach Bucknall) bestätigt und ein Dreistufen‐Mechanismus (Craze‐Initiierung, Crazeband‐Bildung, Rißwachstumsbehinderung) dargelegt. Seine Anwendbarkeit auf weitere schlagzähe Polymere aus Hartpolymermatrix und disperser Kautschukphase (SAN/CPE, SAN/EVA, PS/EPT) wird gezeigt. Abweichend von der Struktur der Crazes existieren Mikroscherbänder (in SAN), auf deren Bildung eingegangen wird.

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