Das Relief der Blattoberfläche

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Abstract
Interference microscopy makes it possible to get information about the actual surface structure of the leaf. Transparent replicas were made using gelatin emulsions or plastic films which were examined with the Zehender chamber. From the interference picture a quantitative determination of the vault and pattern of the epidermal surface can be obtained. Interference microscopy with reflected light is a quick and reliable way to obtain quantitative records of the variety of surfaces. It can be used for recording the development and the variation of the surface layer under different physiological conditions. The method can also be applied for the detection of residues of pesticides. Durch Interferenzmikroskopie im auffallenden Licht kann eine Einsicht in die aktuelle Situation der Blattoberfläche (Relief) erhalten werden. Transparente Abklatsch-Filme können durch Plastik-Repliken order mit Hilfe von flüssiger Gelatine-Emulsion gewonnen werden; diese lassen sich mit Hilfe der Zehender-Kammer untersuchen. Aus dem Interferenz-Bild kann eine quantitative Bestimmung der Wölbung und des Musters der Epidermis-Oberfläche gewonnen werden. Die Anwendung der Auflicht-Interferenz ist daher ein schneller und zuverlässiger Weg zur Gewinnung quantitativer Angaben über Änderungen des Blattreliefs während der Entwicklung und unter verschiedenen physiologischen Bedingungen. Außerdem kann die Methode zum Nachweis von Rückständen von Pflanzenschutzmitteln dienen.