Spectre de vibrations du silicium : mesures et interprétation
- 1 January 1964
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique
- Vol. 25 (11) , 925-932
- https://doi.org/10.1051/jphys:019640025011092500
Abstract
L'objet de ce travail est l'étude de la diffusion faible des rayons X par un cristal de silicium ; cette diffusion est observée en dehors des réflexions sélectives de Bragg ; elle est provoquée par l'agitation thermique des atomes et par l'effet Compton. La photométrie des rayons X diffusés par des monocristaux de silicium a permis de déterminer l'intensité de la diffusion par effet Compton du silicium et les fréquences des oscillations thermiques qui se propagent suivant les axes de symétrie quaternaire et ternaire du cristal, aux températures de 293 et 580 °KKeywords
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- X-ray incoherent scattering functions for non-spherical charge distributions: N, N−, O−, O, O+, O2+, O3+, F, F−, Si4+, Si3+, Si and GeActa Crystallographica, 1959
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