Evolution structurale d'alliages Pd-Si amorphes en fonction de la température

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Abstract
Nous avons étudié sur deux types d'alliages Pd80-Si20 préparés par pulvérisation cathodique et par trempe ultra-rapide l'influence de la température sur la structure. Les fonctions d'interférence ont été obtenues par la méthode de diffraction des rayons X avec analyse d'énergie à angle fixe (méthode non dispersive). Cette méthode permet l'étude de la diffraction d'un échantillon maintenu dans un four à température bien déterminée. Nous n'observons pas de différence fondamentale dans l'évolution des deux types d'échantillon. Les fonctions d'interférence I(K) et de distribution radiales W(R) évoluent avec un accroissement de la température (20 → 340 °C). Par contre aucune évolution sensible des fonctions I(K ) et W(R ) à 300 °C n'est observée lors d'un maintien 24 h à cette température. Si la durée de maintien au-delà de 300 °C est courte (quelques heures), on observe un comportement quasi-réversible. Par contre, si le maintien à haute température (∼ 300 °C) est long (∼ 24 h), les fonctions I( K) et W(R ) obtenues après retour à 20 °C ont évolué par rapport aux fonctions initiales. Ces résultats peuvent être interprétés par l'accroissement de la symétrie locale (sites tétraédriques plus parfaits) avec l'accroissement de la température

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