Facteur de réflexion de couches minces multiples comportant une couche diélectrique d'épaisseur variable
- 1 January 1964
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique
- Vol. 25 (10) , 855-858
- https://doi.org/10.1051/jphys:019640025010085500
Abstract
Pour une fréquence donnée, le coefficient de Fresnel r décrit un cercle dans le plan complexe. La détermination de ce cercle et du point courant, en fonction de l'épaisseur, se déduit, sur un diagramme simple, du seul calcul de trois, ou même deux, points particuliersKeywords
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