Utilisation des couches minces a la détermination des constantes optiques de cristaux absorbants dans l'infrarouge

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Abstract
Le dépôt d'une couche mince d'un diélectrique sur un solide absorbant, permet, par mesure du pouvoir réflecteur avant et après l'évaporation, la détermination des constantes optiques du solide. La méthode a été utilisée à l'intérieur de bandes fortes de cristaux dans l'infrarouge et nous présentons quelques résultats obtenus récemment

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