The application of radioanalytical methods in semiconductor technology
- 31 March 1987
- journal article
- Published by Elsevier in Solid-State Electronics
- Vol. 30 (3) , 329-337
- https://doi.org/10.1016/0038-1101(87)90191-2
Abstract
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- Über das verhalten von kohlenstoff beim zonenziehen von siliciumSolid-State Electronics, 1969
- Zum Einbau von Kohlenstoff bei der Herstellung von ReinstsiliciumSolid-State Electronics, 1968
- Aktivierungsanalytische Untersuchungen an hochreinem SiliciumAnalytical and Bioanalytical Chemistry, 1964