High resolution selective reflection spectroscopy as a probe of long-range surface interaction : measurement of the surface van der Waals attraction exerted on excited Cs atoms
- 1 April 1992
- journal article
- Published by EDP Sciences in Journal de Physique II
- Vol. 2 (4) , 631-657
- https://doi.org/10.1051/jp2:1992108
Abstract
Journal de Physique II, Journal de Physique Archives représente une mine dinformations facile à consulter sur la manière dont la physique a été publiée depuis 1872.Keywords
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