Über das primäre und sekundäre Bild im Elektronenmikroskop. II. Strukturuntersuchung mittels Elektronenbeugung

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1 January 1936

journal article
research article
Published by Wiley in Annalen der Physik

Vol. 419 (1) , 75-80
https://doi.org/10.1002/andp.19364190107

Abstract

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Über das primäre und sekundäre Bild im Elektronenmikroskop. I. Eingriffe in das Beugungsbild und ihr Einfluß auf die Abbildung
Annalen der Physik, 1936
Elektronenbeugung an Einkristallen
The European Physical Journal A, 1932