Effects of collector take‐off angle and energy filtering on the BSE image in the SEM

This publication has 37 references indexed in Scilit:

• Depth resolution of the low- and high-deflection backscattered electron images in the scanning electron microscope
  Physica Status Solidi (a), 1976
• Exit angle dependence of penetration depth of backscattered electrons in the scanning electron microscope
  Physica Status Solidi (a), 1976
• The examination of hot and electron emitting surfaces in the scanning electron microscope
  Micron (1969), 1972
• Untersuchung der Energieverteilung r ckdiffundierter Elektronen an d nnen Metallschichten
  The European Physical Journal A, 1958
• Energie- und Winkelverteilung rückdiffundierter Elektronen
  The European Physical Journal A, 1954
• Energieverteilung rückdiffundierter Elektronen
  The European Physical Journal A, 1954
• Sublichtmikroskopische Auflösungen bei der Abbildung von OberflÄchen im übermikroskop
  The European Physical Journal A, 1940
• über Fortschritte bei der Abbildung elektronenbestrahlter OberflÄchen
  The European Physical Journal A, 1940
• Das Elektronen-Rastermikroskop
  Zeitschrift für Physik, 1938
• Die elektronenmikroskopische Abbildung elektronenbestrahlter Oberfl chen
  The European Physical Journal A, 1933