Determination of W-Ti/Al thin-film interaction by sheet resistance measurement

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• Temperature dependence of impurity resistivity in dilute Al-based Ti, V, Fe, Cu, Zn alloys between 78 and 930 K
  Physica Status Solidi (a), 1972
• Resistivity Studies of Single-Crystal and Polycrystal Films of Aluminum
  Physical Review B, 1969
• Schichtdickenbestimmung und elektrische Leitfähigkeit metallischer Aufdampfschichten
  Zeitschrift für Physik, 1964
• The mean free path of electrons in metals
  Advances in Physics, 1952
• Ueber den Einfluss der Temperatur auf die elektrische Leitungsfähigkeit der Legirungen
  Annalen der Physik, 1864