Mise au point d'un microscope à effet tunnel
- 1 January 1989
- journal article
- Published by EDP Sciences in Revue de Physique Appliquée
- Vol. 24 (1) , 117-131
- https://doi.org/10.1051/rphysap:01989002401011700
Abstract
La conception et la réalisation d'un microscope à effet tunnel sont présentées. On discute de la partie mécanique et de la façon de réaliser l'isolation vis-à-vis des vibrations. Le comportement de la boucle d'asservissement qui contrôle la distance pointe-échantillon est analysée en détail. Les effets parasites dus aux perturbations électriques sont également pris en compte. Les possibilités de ce microscope sont démontrées avec quelques images du graphite et de métaux réalisées à l'airKeywords
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- Electronic Structure of the Si(111)2 × 1 Surface by Scanning-Tunneling MicroscopyPhysical Review Letters, 1986
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