Elektrische Leitfähigkeit, Wärmeleitfähigkeit und Thermokraft von Wismuttellurid‐Einkristallen (Halbleitereigenschaften von Telluriden. III)

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Abstract
An einer polykristallinen Probe und an mehreren nach dem Bridgman‐Verfahren hergestellten Einkristallen, wurden Wärmeleitfähigkeit, Thermokraft und elektrische Leitfähigkeit bei Temperaturen zwischen 100 und 450 bzw. 500°K gemessen. Für zwei Einkristalle erfolgte die Messung auch senkrecht zu den Spaltflächen, im übrigen nur parallel. Bei einigen Einkristallen wurden bei der Einwaage von Tellur oder Wismut bis zu 1% von der Stöchiometrie abgewichen. Der thermoelektrische Gütefaktor und eine Zerlegung der Wärmeleitfähigkeit in Anteile der Gitterleitung, Elektronenleitung und bipolare Diffusion der Ladungsträger werden in Abhängigkeit von der Temperatur dargestellt.

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