Abstract
La structure interne des défauts d'irradiation qui composent la trace latente d'ions lourds dans le mica muscovite est examinée en utilisant des résultats de mesure de diffusion des rayons X aux petits angles analysés par la loi de Guinier et la loi de Porod. On en conclut que les défauts sphériques ont une structure interne inhomogène, un profil Gaussien de densité électronique qui s'accorde bien avec les courbes de diffusion observées. Au cours des recuits thermiques, les défauts ponctuels et les bords du défaut sont recuits à basse température (300 °C), le centre est guéri pour des températures plus élevées variables avec la taille des défauts